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产品简介
非接触光学测厚仪是一款基于光谱共焦成像技术的测量设备，专为微米级精密检测需求设计。该设备通过宽光谱LED光源发射复色光，经色散透镜聚焦形成连续波长焦点，精准捕捉物体表面反射的共焦波长信号，结合高速光谱分析算法，实现单点最高10kHz的采样频率与0.1μm的超高分辨率。设备设备采用天然花岗岩平台和隐藏式倒放探头，提供稳定的测量基准以及减少放样障碍，支持透明/非透明材料单层或多层厚度（如涂层+基材
产品简介
非接触光学测厚仪是一款基于光谱共焦成像技术的测量设备，专为微米级精密检测需求设计。该设备通过宽光谱LED光源发射复色光，经色散透镜聚焦形成连续波长焦点，精准捕捉物体表面反射的共焦波长信号，结合高速光谱分析算法，实现单点最高10kHz的采样频率与0.1μm的超高分辨率。设备设备采用天然花岗岩平台和隐藏式倒放探头，提供稳定的测量基准以及减少放样障碍，支持透明/非透明材料单层或多层厚度（如涂层+基材）的同步无损检测，应用于光学玻璃制造领域.
产品特点
1、宽量程（ ±2000μm），高分辨率 (100纳米)，线性误差 < ±0.8 μm
2、无接触被测物表面，避免了划伤、压痕或应力影响
3、内嵌倒置探头，防止探头影响放样路径
4、测量速度快(每秒10000点)，适合动态过程监控
5、支持多层厚度测量
6、灵活的触发模式（手动、实时）
7、数据带序列号（可扫码枪匹配）
8、支持数据上下限管理（合格判定）
9、实时可视化（厚度值、表格、谱图）
10、便捷的数据导出（TXT, EXCEL, HTML）
产品参数
非接触光学测厚仪 | |
基本参数 | |
工作距离 | 38mm |
量程 | ±2000μm |
分辨率 | 0.1μm |
线性误差 | ＜±0.8μm |
温度特性 | <±0.03% F.S |
最小厚度 | 5% of F.S.(F.S.=4000um） |
测量角度范围 | ±21°（支持微曲面测量） |
测量速度 | 最高10kHz（单点） |
探头参数 | |
光源类型 | 高亮度LED宽光谱光源 |
光斑直径 | Φ16μm/Φ32μm/Φ256μm |
连接方式 | FC/PC接口光纤 |
尺寸（外径*长度） | Φ36*126.1mm |
工作环境 | |
工作温度 | 0°C~50°C |
存储温度 | -20°C~70°C |
防护等级 | IP40（标准） |
抗干扰能力 | 不受环境光、表面倾斜（±21°内）影响 |
湿度范围 | 20%~85% RH |
工作平台 | |
探头调节 | 工作面以下，0-50mm升降 |
平台材质 | 天然花岗石 |
尺寸 | 600mm*600mm*50mm |
硬度 | 莫氏硬度6-7级 |
线膨胀系数 | 4.6×10⁻⁶/℃ |
耐腐蚀性 | 耐酸、碱、磁化，不生锈，无需涂油维护 |
粗糙度 | 工作面Ra 0.32-0.63μm |
抗损伤性 | 碰撞仅产生凹坑，无凸起毛刺，不影响测量精度 |
设备整体 | |
空间尺寸 | 600mm*600mm*1575mm |
平台高度 | 930mm |
电源 | 220AC 50/60HZ |
功率 | 80W |
软件功能 | |
触发模式 | 手动触发、实时触发 |
序列号 | 测试数据匹配序列号（可配扫码枪） |
数据范围 | 支持数据上下限管理 |
可视化 | 实时厚度、数据表格、变化谱图 |
数据导出 | TXT、EXCEL、HTML |
多层测量 | 支持透明材料多层厚度同步检测（如涂层+基材） |
拓展功能 | MES、RS485通信（可定制） |
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